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Unbalanced-tests to the improvement of yield and quality
Chung Huang Yeh, Jwu E. Chen
電機工程學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
5
引文 斯高帕斯（Scopus）
總覽
指紋
指紋
深入研究「Unbalanced-tests to the improvement of yield and quality」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Test Yield
100%
Test Quality
66%
Electrical Properties
33%
Testing Model
33%
Integration Testing
33%
Semiconductor Industry
33%
Near-zero
33%
Integrated Circuit Testing
33%
Manufacturing Technology
33%
Distribution Trends
33%
Testing Technology
33%
Zero Defects
33%
Existing Product
33%
Very Large Scale Integration
33%
Development Speed
33%
Threshold Test
33%
Probability Distribution Model
33%
Product Testing
33%
Guardband Test
33%
Engineering
Test Method
100%
Test Result
33%
Semiconductor Manufacturing
33%
Manufacturing Engineering
33%
Integrated Circuit Testing
33%
VLSI Circuits
33%
Distribution Model
33%
Economics, Econometrics and Finance
Manufacturing Industry
100%
Material Science
Electronic Circuit
100%