Trap-profile extraction using high-voltage capacitance-voltage measurement in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors with field plates
Wen Chia Liao, Jen Inn Chyi, Yue Ming Hsin
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）