Time Variability of Equivalent Width of 6.4 keV Line from the Arches Complex: Reflected X-Rays or Charged Particles?

D. O. Chernyshov, C. M. Ko, R. A. Krivonos, V. A. Dogiel, K. S. Cheng

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

7 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Time Variability of Equivalent Width of 6.4 keV Line from the Arches Complex: Reflected X-Rays or Charged Particles?」主題。共同形成了獨特的指紋。

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Physics