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Thin-film growth rate monitor by normal-incidence reflectance
Fu Rong Huang, Xu Dong Chen, Chun Cheng Wang,
Ju Yi Lee
機械工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Thin-film growth rate monitor by normal-incidence reflectance」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Optical constants
100%
Film growth
87%
Thin films
52%
Rate constants
34%
Semiconductor materials
24%
Glass
22%
Oils
17%
Monitoring
15%
Air
15%
Experiments
9%
Chemical Compounds
Optical Constant
80%
Electron Spin
23%
Semiconductor
21%
Glass
19%
Rate Constant
18%
Time
10%