The understanding of gate capacitance matching on achieving a high performance NC MOSFET with sufficient mobility
C. K. Chiang, P. Husan, Y. C. Lou, F. L. Li, E. R. Hsieh, C. H. Liu, Steve S. Chung
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
C. K. Chiang, P. Husan, Y. C. Lou, F. L. Li, E. R. Hsieh, C. H. Liu, Steve S. Chung
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審