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Testing ternary content addressable memories with active neighbourhood pattern-sensitive faults
Y. J. Huang,
J. F. Li
電機工程學系
研究成果
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同行評審
8
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Testing ternary content addressable memories with active neighbourhood pattern-sensitive faults」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Associative storage
100%
Testing
37%
Transistors
24%
Data storage equipment
17%
Semiconductor materials
12%
Networks (circuits)
7%