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Testing priority address encoder faults of content addressable memories
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
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會議論文篇章
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同行評審
6
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Testing priority address encoder faults of content addressable memories」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Cell Array
11%
Content-addressable Memory
100%
Digital Systems
11%
Encoder
100%
Fault Coverage
11%
Memory Cell
22%
Memory Test
22%
Peripheral Circuits
11%
Priority Encoder
44%
RAM Cell
22%
RAM Testing
22%
Stuck-at
44%
Testing Algorithm
22%
Write Operation
11%
Engineering
Cell Array
20%
Computer Aided Manufacturing
20%
Digital Systems
20%
Reliability Availability and Maintainability (Reliability Engineering)
100%