Testing disturbance faults in various NAND flash memories

Chih Sheng Hou, Jin Fu Li

研究成果: 雜誌貢獻會議論文同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Testing disturbance faults in various NAND flash memories」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science