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Testing disturbance faults in various NAND flash memories
Chih Sheng Hou,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
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同行評審
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Testing disturbance faults in various NAND flash memories」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
NAND Flash Memory
100%
Wordline
28%
Popular
14%
Testing Algorithm
14%
Non-volatile Memory
14%
Flash Memory
14%
Operation Results
14%
Specific Mechanisms
14%
Program Operations
14%