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Testing and diagnosis methodologies for embedded content addressable memories
Jin Fu Li
, Ruey Shing Tzeng
, Cheng Wen Wu
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
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同行評審
20
引文 斯高帕斯（Scopus）
總覽
指紋
指紋
深入研究「Testing and diagnosis methodologies for embedded content addressable memories」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Testing Method
100%
Content-addressable Memory
100%
Diagnostic Process
100%
Comparison Faults
28%
Coupling Faults
28%
System-on-chip
14%
Write Operation
14%
Testing Algorithm
14%
Low Computational Complexity
14%
Priority Encoder
14%
Memory BIST
14%
High-level Fault Coverage
14%
Computer Science
Content-Addressable Memory
100%
Time Complexity
14%
Test Algorithm
14%
Write Operation
14%
Comparison Result
14%
Fault Coverage
14%