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Testable PLA design with low overhead and ease of test generation
Jing Yang Jou
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Testable PLA design with low overhead and ease of test generation」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Array Design
100%
Test Case Generation
100%
Low Overhead
100%
Programmable Logic Arrays
100%
Hardware Overhead
66%
Design for Testability
33%
Don't Care
33%
Engineering
Hardware Overhead
100%
Testability
50%