Test results of the L3 precision muon detector

B. Adeva, M. Aguilar-Benitez, A. Aloisio, M. G. Alviggi, D. Antreasyan, L. Baksay, U. Becker, J. Berdugo, G. J. Bobbink, J. G. Branson, C. Burgos, J. D. Burger, D. Campana, F. Carbonara, M. Cerrada, Y. H. Chang, M. L. Chen, G. Chiefari, N. Colino, E. DragoP. Duinker, I. Duran, F. Erné, R. Fabbretti, M. Fabre, S. Feher, S. S. Gau, M. Gettner, E. Gonzalez, H. van der Graaf, D. Güsewell, F. G. Hartjes, V. Innocente, B. N. Jin, A. König, S. Lanzano, J. M. LeGoff, X. Leijtens, L. Li, S. Lokos, C. Mana, L. Martinez, G. G.G. Massaro, Y. F. Mao, R. Magahiz, P. McBride, L. Merola, M. Napolitano, H. Onvlee, G. Paternoster, S. Patricelli, Y. Peng, O. Prokofiev, J. M. Qian, P. Razis, L. Romero, J. A. Rubio, H. Rykaczewski, J. Salicio, K. Schetkovsky, P. Schmitt, C. Sciacca, P. G. Seiler, V. Souvorov, K. Strauch, C. Timmermans, S. Volkov, J. H. Wang, Q. F. Wang, Z. M. Wang, T. Wenaus, M. White, R. Wilhelm, C. Willmott, B. Wyslouch, F. Y. Xi, B. Z. Yang, C. G. Yang, Q. Y. Yang, C. H. Ye, S. C. Yeh, C. R. Zabounidis, Z. P. Zhang

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Test results of the L3 precision muon detector」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy