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Study on Reduction of Background Fringes for Defect Detection of Specular Surface
An Chi Wei
, Yi Cheng Chang, Jyh Rou Sze
能源工程研究所
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
總覽
指紋
研究計畫
(1)
指紋
深入研究「Study on Reduction of Background Fringes for Defect Detection of Specular Surface」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Defect Detection
100%
Specular Surface
100%
Detection Efficiency
33%
Light Source
33%
Image Quality
33%
Bright Field Illumination
33%
Engineering
Defect Detection
100%
Experimental Result
50%
Light Source
50%
Physics
Light Source
100%