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Study of wafer cleaning process safety using Inherently Safer Design Strategies
Kuo Chi Chang
, Kai Chun Chu
, Der Juinn Horng
, Jerry Chao Lee Lin
, Vivien Yi Chun Chen
企業管理學系
數學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Study of wafer cleaning process safety using Inherently Safer Design Strategies」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Cleaning Methods
100%
Wafer Cleaning
100%
Inherently Safer Design
100%
Wafer Process
100%
Process Safety
100%
Energy Sources
50%
Frequency Response
50%
Electrical Characteristics
50%
Product Yield
50%
Manufacturing Plant
50%
Wet Bench
50%
Engineering
Safe Design
100%
Experimental Result
50%
Frequency Response
50%
Energy Source
50%
Manufacturing Plant
50%
Product Yield
50%