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Spalling suppression by Sn-3.5Ag incorporated with Cu particles
C. Y. Liu
, S. J. Wang
化學工程與材料工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Spalling suppression by Sn-3.5Ag incorporated with Cu particles」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Cu-Sn
100%
Ag3Sn
100%
Spalling
100%
Cu Particles
100%
Under Bump Metallization
83%
Interfacial Energy
33%
Compound Layer
16%
Solder Joint
16%
Intermetallic Compounds
16%
Reliability Issues
16%
Sn-3.5Ag Solder
16%
Pb-free Solder
16%
Cu Atoms
16%
Ni-Sn
16%
Flip-chip Technology
16%
Reflowing
16%
Soldering Reaction
16%
Chip Connection
16%
Reaction Barrier
16%
Spalling Phenomena
16%
Layer Compound
16%
Material Science
Solder Joint
100%
Lead-Free Solder
100%
Surface (Surface Science)
100%
Intermetallics
100%
Medicine and Dentistry
Tin Compound
100%