Software-hardware-cooperated built-in self-test scheme for channel-based DRAMs

Tsung Fu Hsieh, Jin Fu Li, Kuan Te Wu, Jenn Shiang Lai, Chih Yen Lo, Ding Ming Kwai, Yung Fa Chou

電機工程學系

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

5 引文斯高帕斯（Scopus）

1結果

已完成
應用於物聯網之新興非揮發性記憶體測試技術(2/3)
Li, J.-F. (PI)
1/08/17 → 31/07/18
研究計畫: Research