跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Sensors for ferric ion in plating solutions
Robert F. Savinell, Tianying Mi, Chi Jin Chen,
Chung Chiun Liu
材料科學與工程研究所
研究成果
:
專家出版物貢獻類型
›
文章
總覽
指紋
指紋
深入研究「Sensors for ferric ion in plating solutions」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Plating
74%
Ions
60%
Sensors
33%
Iron plating
26%
Zinc plating
23%
Citric acid
19%
Thick films
16%
Metallizing
15%
Chemical sensors
14%
Gold
14%
Microelectronics
14%
Electrodes
10%
Mathematical models
9%
Testing
6%
Physics & Astronomy
ferric ions
100%
plating
72%
sensors
40%
citric acid
15%
output
13%
ion concentration
12%
microelectronics
11%
thick films
10%
baths
9%
zinc
9%
mathematical models
9%
gold
8%
iron
7%
electrodes
6%
ions
5%
Chemical Compounds
Ion
26%
Microelectronics
24%
Citric Acid
21%
Flow
14%
Behavior as Electrode
11%
Liquid Film
10%