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Reliability-enhancement and self-repair schemes for SRAMs with static and dynamic faults
Jin Fu Li
, Tsu Wei Tseng, Chih Sheng Hou
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
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同行評審
10
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Reliability-enhancement and self-repair schemes for SRAMs with static and dynamic faults」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Self-repair
100%
Repair Scheme
100%
Static Random Access Memory
100%
Reliability Enhancement
100%
Dynamic Fault
100%
Static Faults
100%
Area Cost
25%
Defect Detection
25%
64-bit
25%
Text Comprehension
12%
Time Penalty
12%
Repair Rate
12%
Functional Fault
12%
Read Operation
12%
Resistive Defects
12%
Engineering
Random Access Memory
100%
Experimental Result
12%
Resistive
12%
Computer Science
Static Random Access Memory
100%
Experimental Result
12%
Read Operation
12%