原文 | ???core.languages.en_GB??? |
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主出版物標題 | Noise in Nanoscale Semiconductor Devices |
發行者 | Springer International Publishing |
頁面 | 175-200 |
頁數 | 26 |
ISBN(電子) | 9783030375003 |
ISBN(列印) | 9783030374990 |
DOIs | |
出版狀態 | 已出版 - 26 4月 2020 |
Principles and applications of Ig-RTN in Nano-scaled MOSFET
Steve S. Chung, E. R. Hsieh
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 篇章 › 同行評審
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引文
斯高帕斯(Scopus)