Principles and applications of Ig-RTN in Nano-scaled MOSFET

Steve S. Chung, E. R. Hsieh

研究成果: 書貢獻/報告類型篇章同行評審

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主出版物標題Noise in Nanoscale Semiconductor Devices
發行者Springer International Publishing
頁面175-200
頁數26
ISBN(電子)9783030375003
ISBN(列印)9783030374990
DOIs
出版狀態已出版 - 26 4月 2020

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