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Photorefractive properties of reduced BaTiO
3
:Rh at wavelengths of 514 nm and 633 nm
J. Y. Chang, C. Y. Huang, S. H. Duan,
C. C. Sun
光電科學與工程學系
研究成果
:
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Photorefractive properties of reduced BaTiO
3
:Rh at wavelengths of 514 nm and 633 nm」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Cm(III)
100%
Barium Titanate
100%
Photorefractive Properties
100%
Trap Density
50%
As-grown
33%
Oxygen Partial Pressure
33%
Two-beam Coupling
33%
Density Increase
16%
Response Time
16%
Incident Wavelength
16%
Coupling Gain
16%
Coupling Time
16%
Reduction Level
16%
Material Science
Density
100%