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Pattern of x-ray scattering by thermal phonons in si
Z. Wu
, Hawoong Hong
, R. Aburano
, P. Zschack
, P. Jemian
, J. Tischler
, Haydn Chen
,
D. A. Luh
, T. C. Chiang
物理學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
22
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Pattern of x-ray scattering by thermal phonons in si」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Thermal Phonons
100%
Scattering Cross Section
50%
Synchrotron
50%
Wafer
50%
Si(111)
50%
Symmetric Patterns
50%
Intensity Distribution
50%
Phonon Population
50%
Undulator Radiation
50%
High-energy Beams
50%
Laue Geometry
50%
Phonon Polarization
50%
Phonon Dispersion
50%
Physics
Phonon
100%
Scattering Cross Section
33%
Synchrotron
33%
Undulator
33%