My-box representation for faulty CMOS circuits

J. E. Chen, C. L. Lee, W. Z. Shen

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「My-box representation for faulty CMOS circuits」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science