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Motion stage design with scanning-by-probe AFM for imaging nanocrystals on sapphire surface
Yi Cheng Huang, Mou Sheng Lin, Che Ming Liu,
Jyh Chen Chen
臺灣經濟發展研究中心
機械工程學系
光電科學與工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Motion stage design with scanning-by-probe AFM for imaging nanocrystals on sapphire surface」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Atomic Force Microscopy
100%
Nanocrystals
100%
Sapphire Surface
100%
Motion Stage
100%
Stage Design
100%
Scanning Distance
50%
Scanning Electron Microscopy
25%
Motion System
25%
System Integration
25%
Positioning Error
25%
Large Scanning
25%
Sapphire Crystal
25%
MgAl2O4 Spinel
25%
Etch pit
25%
Single Crystal Surfaces
25%
Spinel Nanocrystals
25%
Piezoelectric Drive
25%
Fast Imaging
25%
Error Resolution
25%
Engineering
Atomic Force Microscopy
100%
Design Stage
100%
Sapphire Surface
100%
Experimental Result
25%
Piezoelectric
25%
Motion System
25%
Crystal Surface
25%
Material Science
Sapphire
100%
Surface (Surface Science)
100%
Atomic Force Microscopy
100%
Scanning Electron Microscopy
25%
Piezoelectricity
25%
Single Crystal Surface
25%