Modeling and Testing comparison faults for ternary content addressable memories

Jin Fu Li, Chou Kun Lin

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章同行評審

6 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Modeling and Testing comparison faults for ternary content addressable memories」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science