Measurement of |Vub| from inclusive charmless semileptonic B decays

P. Urquijo, E. Barberio, I. Adachi, H. Aihara, K. Arinstein, A. M. Bakich, K. Belous, V. Bhardwaj, M. Bischofberger, A. Bozek, M. Bračko, T. E. Browder, Y. Chao, A. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, I. S. Cho, Y. Choi, J. Dalseno, A. DasM. Dash, W. Dungel, S. Eidelman, N. Gabyshev, P. Goldenzweig, B. Golob, H. Ha, J. Haba, H. Hayashii, Y. Horii, Y. Hoshi, W. S. Hou, Y. B. Hsiung, H. J. Hyun, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, M. Iwasaki, D. H. Kah, J. H. Kang, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, H. O. Kim, J. H. Kim, S. K. Kim, Y. I. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, B. R. Ko, M. Kreps, P. Križan, P. Krokovny, T. Kuhr, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. H. Kyeong, M. J. Lee, S. E. Lee, S. H. Lee, T. Lesiak, J. Li, A. Limosani, C. Liu, D. Liventsev, R. Louvot, F. Mandl, A. Matyja, S. McOnie, H. Miyata, Y. Miyazaki, R. Mizuk, T. Mori, Y. Nagasaka, E. Nakano, M. Nakao, Z. Natkaniec, S. Nishida, K. Nishimura, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, W. Ostrowicz, H. Ozaki, G. Pakhlova, C. W. Park, H. K. Park, K. S. Park, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, H. Sahoo, Y. Sakai, O. Schneider, C. Schwanda, R. Seidl, K. Senyo, M. E. Sevior, M. Shapkin, J. G. Shiu, B. Shwartz, J. B. Singh, S. Stanič, M. Starič, K. Sumisawa, G. N. Taylor, Y. Teramoto, K. Trabelsi, S. Uehara, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, G. Varner, K. E. Varvell, K. Vervink, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, Y. Watanabe, R. Wedd, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamashita, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, T. Zivko, A. Zupanc, O. Zyukova

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

65 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Measurement of |Vub| from inclusive charmless semileptonic B decays」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Mathematics

Physics

Material Science

Chemistry