Measurement of the near-threshold e+e- → DD cross section using initial-state radiation

  • G. Pakhlova
  • , I. Adachi
  • , H. Aihara
  • , K. Arinstein
  • , V. Aulchenko
  • , T. Aushev
  • , A. M. Bakich
  • , V. Balagura
  • , A. Bay
  • , I. Bedny
  • , U. Bitenc
  • , A. Bondar
  • , A. Bozek
  • , M. Bracko
  • , J. Brodzicka
  • , T. E. Browder
  • , P. Chang
  • , A. Chen
  • , W. T. Chen
  • , B. G. Cheon
    • R. Chistov, S. K. Choi, Y. Choi, J. Dalseno, M. Danilov, A. Drutskoy, S. Eidelman, D. Epifanov, N. Gabyshev, B. Golob, K. Hayasaka, H. Hayashii, D. Heffernan, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, Y. Iwasaki, D. H. Kah, J. H. Kang, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, A. Kibayashi, H. Kichimi, H. O. Kim, S. K. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, S. Korpar, P. Krokovny, R. Kumar, C. C. Kuo, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, J. S. Lee, M. J. Lee, T. Lesiak, A. Limosani, S. W. Lin, Y. Liu, D. Liventsev, F. Mandl, A. Matyja, S. McOnie, T. Medvedeva, W. Mitaroff, K. Miyabayashi, H. Miyata, Y. Miyazaki, R. Mizuk, G. R. Moloney, S. Nishida, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, S. L. Olsen, H. Ozaki, P. Pakhlov, C. W. Park, L. S. Peak, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, A. Poluektov, H. Sahoo, Y. Sakai, O. Schneider, A. J. Schwartz, R. Seidl, K. Senyo, M. Shapkin, V. Shebalin, H. Shibuya, J. G. Shiu, B. Shwartz, J. B. Singh, A. Sokolov, A. Somov, S. Stanic, M. Staric, T. Sumiyoshi, S. Y. Suzuki, F. Takasaki, K. Tamai, Y. Teramoto, I. Tikhomirov, S. Uehara, K. Ueno, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, Y. Usov, G. Varner, K. Vervink, S. Villa, A. Vinokurova, C. H. Wang, P. Wang, X. L. Wang, Y. Watanabe, B. D. Yabsley, C. Z. Yuan, Y. Yusa, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, A. Zupanc, O. Zyukova

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Measurement of the near-threshold e+e- → DD cross section using initial-state radiation」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Physics