跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Measurement of the branching fraction of B
+
→ τ
+
ν
τ
decays with the semileptonic tagging method and the full Belle data sample
Belle Collaboration
物理學系
研究成果
:
會議貢獻類型
›
會議論文
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Measurement of the branching fraction of B
+
→ τ
+
ν
τ
decays with the semileptonic tagging method and the full Belle data sample」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Branching Fraction
100%
Beta Decay
100%
Belle
100%
Tagging Method
100%
Semileptonic
100%
Semileptonic Decays
33%
Collider
33%
Belle Detector
33%
B Meson
33%
Physics
Standard Model
100%
Meson
100%