Measurement of e+e-+-: A test of electroweak theories

B. Adeva, U. Becker, R. Becker-Szendy, J. Berdugo, A. Boehm, J. G. Branson, J. D. Burger, M. Capell, M. Cerrada, C. C. Chang, Y. H. Chang, H. S. Chen, M. Chen, M. L. Chen, M. Y. Chen, Y. S. Chu, E. Deffur, K. Deiters, M. Demarteau, B. Z. DongP. Duinker, H. S. Fesefeldt, D. Fong, M. Fukushima, L. Garrido, R. D. Han, D. Harting, G. Herten, M. C. Ho, D. Hueser, M. Hussain, M. M. Ilyas, D. Z. Jiang, M. Klein, W. Krenz, P. Kuijer, R. Leiste, Q. Z. Li, D. Linnhoefer, D. Luckey, E. J. Luit, C. Mana, M. A. Marquina, M. Martinez, G. G.G. Massaro, J. Mnich, R. Mount, K. Nadeem, H. Newman, W. D. Nowak, M. Pohl, F. P. Poschmann, R. R. Rau, S. Rodriguez, M. Rohde, J. A. Rubio, H. Rykaczewski, M. Sachwitz, J. Salicio, H. J. Schreiber, U. Schroeder, J. Schug, H. Stone, G. M. Swider, H. W. Tang, D. Teuchert, Samuel C.C. Ting, K. L. Tung, H. Vogt, M. Q. Wang, M. White, H. G. Wu, S. X. Wu, B. Wyslouch, B. X. Yang, B. Zhou, R. Y. Zhu

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

25 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Measurement of e+e-+-: A test of electroweak theories」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Physics