Measurement of cross sections of exclusive e+ e- → V P processes at sqrt(s) = 10.58 GeV

K. Belous, M. Shapkin, I. Adachi, H. Aihara, K. Arinstein, V. Aulchenko, A. M. Bakich, V. Balagura, E. Barberio, W. Bartel, A. Bay, M. Bischofberger, A. Bondar, A. Bozek, M. Bračko, T. E. Browder, P. Chang, Y. Chao, A. Chen, B. G. CheonI. S. Cho, S. K. Choi, Y. Choi, J. Dalseno, M. Dash, A. Drutskoy, S. Eidelman, D. Epifanov, N. Gabyshev, A. Garmash, H. Ha, Y. Horii, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, M. Iwasaki, N. J. Joshi, D. H. Kah, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, H. O. Kim, J. H. Kim, Y. I. Kim, Y. J. Kim, B. R. Ko, P. Križan, P. Krokovny, R. Kumar, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. H. Kyeong, M. J. Lee, S. H. Lee, T. Lesiak, A. Limosani, C. Liu, D. Liventsev, R. Louvot, A. Matyja, S. McOnie, H. Miyata, R. Mizuk, T. Mori, Y. Nagasaka, S. Nishida, O. Nitoh, T. Ohshima, S. Okuno, H. Ozaki, P. Pakhlov, G. Pakhlova, C. W. Park, H. K. Park, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, A. Poluektov, Y. Sakai, O. Schneider, C. Schwanda, K. Senyo, M. E. Sevior, V. Shebalin, C. P. Shen, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sokolov, S. Stanič, M. Starič, J. Stypula, T. Sumiyoshi, G. N. Taylor, Y. Teramoto, K. Trabelsi, S. Uehara, Y. Unno, S. Uno, Y. Usov, G. Varner, K. E. Varvell, K. Vervink, A. Vinokurova, C. H. Wang, P. Wang, Y. Watanabe, R. Wedd, E. Won, B. D. Yabsley, H. Yamamoto, Y. Yamashita, V. Zhilich, V. Zhulanov, T. Zivko, A. Zupanc, O. Zyukova

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Measurement of cross sections of exclusive e+ e- → V P processes at sqrt(s) = 10.58 GeV」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Physics