跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Lissajous scan trajectory with internal model principle controller for fast AFM image scanning
Jim Wei Wu
, Yu Ting Lo, Wei Chih Liu, Li Chen Fu
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Lissajous scan trajectory with internal model principle controller for fast AFM image scanning」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Atomic Force Microscopy
50%
Atomic Force Microscopy Image
100%
Complementary Sliding Mode Control
50%
Controller
100%
Dynamic Characteristics
50%
Image Scanning
100%
Internal Model Principle
100%
Lissajous Scanning
100%
Lissajous Trajectory
50%
Measurement Instrument
50%
Measuring Instrument
50%
Mechanical Resonance
50%
Micro-nano
50%
Nanoscale Measurement
50%
Neural Network
50%
Non-conductive Material
50%
Principles-based
50%
Raster Scanning
50%
Scanning Accuracy
100%
Scanning Speed
100%
Scanning Trajectory
100%
Engineering
Atomic Force Microscopy
100%
Conductive
50%
Internals
100%
Nanoscale
50%
Scale Measurement
50%
Scan Speed
100%
Sliding Mode Control
50%
Computer Science
Internal Model
100%
Measurement Tool
50%
Neural Network
50%
Sliding Mode Control
50%