LDS-ATPG: An automatic test pattern generation system for combinational VLSI circuits

  • Sen Chung Jiang
  • , Chung Len Lee
  • , Wen Zen Shen
  • , Jwu E. Chen
  • , Ching Ping Wu

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

1 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「LDS-ATPG: An automatic test pattern generation system for combinational VLSI circuits」主題。共同形成了獨特的指紋。
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