LDS-ATPG: An automatic test pattern generation system for combinational VLSI circuits
Sen Chung Jiang, Chung Len Lee, Wen Zen Shen, Jwu E. Chen, Ching Ping Wu
研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）