LDS-ATPG: An automatic test pattern generation system for combinational VLSI circuits

Sen Chung Jiang, Chung Len Lee, Wen Zen Shen, Jwu E. Chen, Ching Ping Wu

研究成果: 會議貢獻類型會議論文同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「LDS-ATPG: An automatic test pattern generation system for combinational VLSI circuits」主題。共同形成了獨特的指紋。

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