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影響
Large-area few-layer MoS
2
deposited by sputtering
Jyun Hong Huang
, Hsing Hung Chen
, Pang Shiuan Liu
, Li Syuan Lu
, Chien Ting Wu
, Cheng Tung Chou
, Yao Jen Lee
, Lain Jong Li
, Wen Hao Chang
, Tuo Hung Hou
化學工程與材料工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
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同行評審
49
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Large-area few-layer MoS
2
deposited by sputtering」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
2D Layered Materials
50%
Annealing Ambience
50%
Few-layer MoS2
100%
Field-effect Transistors
50%
Film Quality
50%
Gate Field Effect
50%
Grain Boundary
50%
High Crystallinity
50%
Layered MoS2
100%
Low Mobility
50%
Magnetron Sputtering
100%
On-off Ratio
50%
Photoluminescence
50%
Post-deposition Annealing
50%
Small Grain Size
50%
Sputtering Temperature
50%
Top Gate
50%
Transition Metal Dichalcogenides
50%
Transmission Electron Microscopy Analysis
50%
Trapped Charge Density
50%
Material Science
Annealing
100%
Density
50%
Electron Microscopy
50%
Field Effect Transistor
50%
Film
50%
Grain Boundary
50%
Grain Size
50%
Layered Material
50%
Magnetron Sputtering
100%
Photoluminescence
50%
Transition Metal Dichalcogenide
50%
Transmission Electron Microscopy
50%