Ion beam testing of ALTERA APEX FPGAs

M. Ceschia, M. Bellato, A. Paccagnella, A. Kaminski, S. C. Lee, C. Wan, M. Menichelli, A. Papi, J. Wyss

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章同行評審

41 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Ion beam testing of ALTERA APEX FPGAs」主題。共同形成了獨特的指紋。

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