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Identification of robust untestable path delay faults
Wen Ching Wu, Chung Len Lee, Jwu E. Chen
電機工程學系
研究成果
:
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Identification of robust untestable path delay faults」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Path Delay Faults
100%
Distributed Processing
40%
Computation Time
20%
Benchmark Circuits
20%
Circuit Partitioning
20%
Test Path
20%
Untestable Faults
20%
Re-convergence
20%
Computer Science
Distributed Processing
100%
Experimental Result
50%
Computation Time
50%
Benchmark Circuit
50%