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High repair-efficiency BISR scheme for RAMs by reusing bitmap for bit redundancy
Chih Sheng Hou,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
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同行評審
16
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「High repair-efficiency BISR scheme for RAMs by reusing bitmap for bit redundancy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Random Access Memory
100%
Built-in Self-repair
100%
Repair Scheme
100%
Repair Rate
100%
Redundancy
100%
Bitmap
100%
Local Bitmap
71%
Redundancy Analysis Algorithm
28%
Row-column
28%
32-bit
14%
Hardware Overhead
14%
Time Penalty
14%
Caching
14%
Fault Distribution
14%
3-bits
14%
Fault Information
14%
Computer Science
Random Access Memory
100%
Redundancy Analysis
40%
Hardware Overhead
20%
Fault Information
20%
Engineering
Random Access Memory
100%
Simulation Result
20%
Hardware Overhead
20%