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High repair-efficiency BISR scheme for RAMs by reusing bitmap for bit redundancy
Chih Sheng Hou,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
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同行評審
13
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「High repair-efficiency BISR scheme for RAMs by reusing bitmap for bit redundancy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Redundancy
100%
Repair
96%
Data storage equipment
71%
Computer hardware
6%