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High dislocation density of tin induced by electric current
Yi Han Liao, Chien Lung Liang, Kwang Lung Lin,
Albert T. Wu
化學工程與材料工程學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
31
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「High dislocation density of tin induced by electric current」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Dislocation
100%
Electric Current
100%
Deflection Angle
100%
Recrystallization
100%
High-density Dislocation
100%
Dislocation Density
50%
High-resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM)
50%
Current Stressing
50%
Electron Backscatter Diffraction
50%
Grain Refinement
50%
Subgrain
50%
Dislocation Loops
50%
Diffraction Image
50%
Dislocation Line
50%
Line Dislocation
50%
Engineering
High Dislocation Density
100%
Dislocation Density
50%
Subgrains
50%
Dislocation Loop
50%
High Resolution Transmission Electron Microscope
50%
Backscattered Electron
50%
Dislocation Line
50%
Material Science
Density
100%
Tin
100%