Hierarchical test integration methodology for 3-D ICs

Che Wei Chou, Jin Fu Li, Yun Chao Yu, Chih Yen Lo, Ding Ming Kwai, Yung Fa Chou

研究成果: 雜誌貢獻評論/辯論

4 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文???core.languages.en_GB???
文章編號7096969
頁(從 - 到)59-70
頁數12
期刊IEEE Design and Test
32
發行號4
DOIs
出版狀態已出版 - 1 7月 2015

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