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Growth of high quality AlN on sapphire by using a low-temperature AlN interlayer
Hsueh Hsing Liu, Guan Ting Chen, Yung Ling Lan, Geng Yen Lee,
Jen Inn Chyi
前瞻科技研究中心
電機工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
雜誌貢獻
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會議論文
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同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Growth of high quality AlN on sapphire by using a low-temperature AlN interlayer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Acoustic Devices
25%
AlGaN-GaN
25%
AlN Interlayer
100%
AlN Template
100%
Annihilation Process
25%
Bulk Material
25%
Bulk Substrate
25%
Crystal Growth
25%
Dipole
25%
Dislocation
75%
Epitaxial Growth
25%
Etch pit Density
25%
Full Width at Half Maximum
25%
GaN Schottky Diodes
25%
Growth Form
50%
Growth Technology
25%
Growth Temperature
25%
Half Loop
25%
High Breakdown Voltage
25%
High Figure of Merit
25%
High Power Electronics
25%
Low Dislocation Density
25%
Low Temperature
100%
Main Idea
25%
Metal-organic Chemical Vapor Deposition (MOCVD)
25%
Mode Change
25%
Nitrides
25%
Photonic Devices
25%
Rocking Curve
25%
Sapphire
100%
Sapphire Substrate
25%
Screw
25%
V(III)
25%
Material Science
Acoustic Device
10%
Aluminum Nitride
100%
Crystal Growth
10%
Density
20%
Epitaxy
10%
Metal-Organic Chemical Vapor Deposition
10%
Optical Device
10%
Sapphire
100%
Schottky Diode
10%