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Functional test generation for finite state machines
Kwang Ting Cheng,
Jing Yang Jou
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
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同行評審
37
引文 斯高帕斯（Scopus）
總覽
指紋
指紋
深入研究「Functional test generation for finite state machines」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Fault Model
100%
Test Case Generation
100%
Finite State Machine
100%
Functional Test Generation
100%
State Transition
66%
Fault Coverage
33%
Functional Fault
33%
Stuck-at
33%
Fault Collapsing
33%
Gate Level
33%
Generation System
33%
Generation Method
33%
Generation Time
33%
High Coverage
33%
Automatic Test Generation
33%
Test Generation Algorithm
33%
Transition Faults
33%
Fault Cause
33%
Test Case Generator
33%
Engineering
Fault Model
100%
Functional Test
100%
Finite-State Machine
100%
State Transition
50%
Experimental Result
25%
Generation System
25%
Smaller Subset
25%
Test Level
25%
Computer Science
Finite-State Machine
100%
Test Generation
100%
Functional Test
100%
State Transition
33%
Destination State
33%
Experimental Result
16%
Fault Coverage
16%
Generation System
16%
Generation Time
16%
Physics
Finite-State Machine
100%
Generation Time
33%
Earth and Planetary Sciences
Finite-State Machine
100%
Generation Time
33%