Fault-tolerant ring embedding in faulty arrangement graphs

Sun yuan Hsieh, Gen Huey Chen, Chin Wen Ho

研究成果: 會議貢獻類型會議論文同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Fault-tolerant ring embedding in faulty arrangement graphs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science