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Fault modeling and testing of 1T1R memristor memories
Yong Xiao Chen,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
63
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Fault modeling and testing of 1T1R memristor memories」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Fault Model
100%
Fault Test
100%
Memristor
100%
1T1R
100%
Write Disturbance
50%
March Test
33%
Transistor
16%
Write Operation
16%
Electrical Faults
16%
Resistance Bridge
16%
Cellular Structure
16%
Memory-based
16%
Non-volatile Memory
16%
Read Operation
16%
New Fault
16%
Stuck-at Faults
16%
Sneak Path Current
16%
Access Transistor
16%
1T1R Cell
16%
Crossbar Structure
16%
Material Science
Transistor
100%
Physics
Memristor
100%