Fault-Aware ECC Scheme for Enhancing the Read Reliability of STT-MRAMs

Meng Shan Wu, Yen Lin Chua, Jin Fu Li, Yun Ting Chuan, Shih Hsu Huang

電機工程學系

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

2 引文斯高帕斯（Scopus）

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運算記憶體之測試與可靠性增強技術-總計畫暨子計畫一：運算記憶體之測試策略與自動化技術(3/3)
Li, J.-F. (PI)
1/08/25 → 31/07/26
研究計畫: Research