Experimental techniques on the understanding of the charge loss in a SONOS nitride-storage nonvolatile memory
E. R. Hsieh, H. T. Wang, Steve S. Chung, Wayne Chang, S. D. Wang, C. H. Chen
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）