Experimental techniques on the understanding of the charge loss in a SONOS nitride-storage nonvolatile memory
- E. R. Hsieh
- , H. T. Wang
- , Steve S. Chung
- , Wayne Chang
- , S. D. Wang
- , C. H. Chen
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）