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Epitaxial Cu-Sn bulk crystals grown by electric current
C. Y. Liu
, Y. J. Hu
, Y. S. Liu
, H. W. Tseng
, T. S. Huang
, C. T. Lu
, Y. C. Chuang
,
S. L. Cheng
化學工程與材料工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
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同行評審
52
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Epitaxial Cu-Sn bulk crystals grown by electric current」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Epitaxial
100%
Electric Current
100%
Cu-Sn
100%
Crystal Growth
100%
Liquid Phase
100%
Bulk Crystal
100%
Cu3Sn
57%
Cu6Sn5
42%
Electron Flow
42%
Growth Direction
28%
Anisotropy
14%
Coefficient of Thermal Expansion
14%
X-ray Diffraction (XRD) Analysis
14%
Electrical Properties
14%
Carrier Concentration
14%
Carrier Mobility
14%
Resistivity
14%
Low Resistance
14%
Vickers Hardness
14%
Molecular Simulation
14%
Cu Atoms
14%
Simulation Software Tools
14%
Microhardness Property
14%
Material Science
Thermal Expansion
100%
X Ray Diffraction Analysis
100%
Anisotropy
100%
Carrier Concentration
100%
Carrier Mobility
100%
Electrical Resistivity
100%
Microhardness
100%
Molecular Simulation
100%