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Effect of Cu content on interfacial reactions between Sn(Cu) alloys and Ni/Ti thin-film metallization
S. C. Hsu, S. J. Wang,
C. Y. Liu
化學工程與材料工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
30
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Effect of Cu content on interfacial reactions between Sn(Cu) alloys and Ni/Ti thin-film metallization」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
NiTi
100%
Interfacial Reaction
100%
Sn-Cu-Ni
100%
Cu Content
100%
Metallization
100%
Spalling
100%
Sn-Cu Alloy
100%
Ti Thin Film
100%
Ni Thin Film
57%
Ripening Flux
57%
Reflowing
42%
Cu-Sn
28%
Compound Layer
28%
Soldering
28%
Interfacial Intermetallic Compound
14%
Possible Mechanisms
14%
Cu6Sn5
14%
Semi-spherical
14%
Cu Additive
14%
Engineering
Thin Films
100%
Metallizations
100%
Compound Layer
40%
Driving Force
20%
Material Science
Thin Films
100%
Copper Alloy
100%
Surface (Surface Science)
20%