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Dynamic analysis of a Si/SiGe-based impact ionization avalanche transit time photodiode with an ultrahigh gain-bandwidth product
J. W. Shi
, F. M. Kuo, F. C. Hong, Y. S. Wu
電機工程學系
研究成果
:
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同行評審
13
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Dynamic analysis of a Si/SiGe-based impact ionization avalanche transit time photodiode with an ultrahigh gain-bandwidth product」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Dynamic Analysis
100%
SiGe
100%
Photodiode
100%
Impact Ionization
100%
Avalanche Transit Time
100%
Gain-bandwidth Product
100%
Ultra High Gain
100%
Negative Photoconductance
100%
Measurement Results
50%
Eye Opening
50%
3-dB Bandwidth
50%
Dynamic Performance
50%
Si Substrate
50%
Bias Voltage
50%
Resonant Frequency
50%
Modeling Results
50%
Bandwidth Enhancement
50%
External Efficiency
50%
Enhancement Effect
50%
Reverse Leakage Current
50%
Transit Time
50%
Avalanche Photodiode
50%
Engineering
Photodiode
100%
Internals
100%
Impact Ionization
100%
Gain-Bandwidth Product
100%
Db Bandwidth
50%
Dynamic Performance
50%
Eye Opening
50%
Bias Voltage
50%
Resonant Frequency
50%
Si Substrate
50%
External Efficiency
50%
Bandwidth Performance
50%
Avalanche Photodiode
50%
Frequency Increase
50%
Physics
Photodiode
100%
Resonant Frequency
33%