Diagnosis of Resistive Nonvolatile-8T SRAMs

搜尋結果

• 已完成

  應用於三維積體電路可測性及可靠性設計技術-總計畫暨子計畫一：三維積體電路中堆疊式記憶體與晶粒間連接線可測性與可靠性技術

  Li, J.-F. (PI)

  1/05/15 → 31/07/16

  研究計畫: Research

  • Memristor 100%
  • Repair Scheme 80%
  • Built-in Self-repair 80%
  • Row-column 80%
  • 1T1R 80%