跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Diagnosing Binary Content Addressable Memories with Comparison and RAM Faults
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Diagnosing Binary Content Addressable Memories with Comparison and RAM Faults」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
System-on-chip
100%
Binary Content-addressable Memory
100%
Binary CAM
100%
Write Operation
33%
Comparison Faults
33%
Chip Area
33%
Content-addressable Memory
33%
Fault Type
33%
Diagnostic Process
33%
System Quality
33%
Diagnostic Resolution
33%
Memory Diagnosis
33%
Fault Identification Algorithm
33%
Computer Science
Content-Addressable Memory
100%
System-on-Chip
100%
Computer Aided Manufacturing
100%
Write Operation
33%
Identification Algorithm
33%
fault identification
33%
Diagnosis Phase
33%
Engineering
System-on-Chip
100%
Reliability Availability and Maintainability (Reliability Engineering)
100%
Computer Aided Manufacturing
100%
Chip Area
33%
Faulty Cell
33%