Development pattern recognition model for the classification of circuit probe wafer maps on semiconductors

Cheng Wei Chang, Tsung Ming Chao, Jorng Tzong Horng, Chien Feng Lu, Rong Hwei Yeh

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22 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Development pattern recognition model for the classification of circuit probe wafer maps on semiconductors」主題。共同形成了獨特的指紋。

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Engineering

Material Science