Determining quality of microcrystal silicon thin films based on infrared absorption coefficients

  • Sheng Hui Chen
  • , Hung Ju Lin
  • , Ting Wei Chang
  • , Hsuan Wen Wang
  • , Cheng Chung Lee
  • , Chun Ming Yeh
  • , Yen Yu Pan

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

指紋

深入研究「Determining quality of microcrystal silicon thin films based on infrared absorption coefficients」主題。共同形成了獨特的指紋。
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